光学制御と特性評価のための次世代計測器

概要

複数の独立したテスト機器を使用した光学システムの特性評価と制御は、安定性の低下、ノイズの増加、システムの複雑さの増加につながる困難な課題を伴うことがよくあります。しかし、柔軟でデジタル実装された機器を使用すると、機敏かつ迅速に光学制御システムを最適化することが容易になります。この特別プレゼンテーションでは、Liquid Instrumentsと フォトニクスメディア 柔軟で再構成可能なFPGAベースの計測機器を使用して光学システムを特性評価および制御するための次世代戦略を共有します。プレゼンテーションでは、複数のソフトウェア定義計測機器を統合します。 ロックインアンプ, 位相計, PIDコントローラー, 周波数応答アナライザー — 1 つのシステムで新しい位相検出技術を探索できます。開ループおよび閉ループのシステム応答を完全に特性評価し、専用の位相検出で測定の信頼性と速度を向上させ、従来のテスト機器を統合し、ソフトウェア定義の計測器でコストを削減する新しい方法を発見してください。 ご参加ください:

• レーザー周波数の安定化と位相ロックのためのリアルタイム デジタル信号処理の利点を理解します。
• デジタルファーストのアプローチを採用した柔軟な FPGA ベースの処理を活用して、計測機器を測定要件に迅速に適応させます。
• 複数の計測器機能を備えた高度な信号処理パイプラインを構築します。

ウェビナーには、プレゼンテーション、デモンストレーション、ライブ Q&A セッションが含まれます。