配置和控制用于硅器件测试和特性分析的复杂测试设备设置

概述

本次网络研讨会将探讨使用可重构测试平台进行模拟和混合信号器件测试的高效、精确且可扩展的技术。随着半导体器件日益复杂，工程师面临着在紧迫的时间安排下验证器件性能并捕捉极端情况的挑战。测试平台通常包含示波器、波形发生器、网络分析仪等设备，这些设备可能来自不同的供应商，具有各自独特的自动化和配置要求。为了满足半导体验证的要求，专为灵活性和高性能而设计的多通道测试平台可以帮助工程师有效地扩展测试规模。本次网络研讨会将涵盖广泛的主题，例如使用可重构测试平台进行模拟和混合信号器件测试的高效、精确且可扩展的技术。本次研讨会还将包含现场演示和问答环节。

在本次网络研讨会中，您将了解：

• 使用多种集成仪器降低信号路径的复杂性。
• 测量混合信号 DUT 响应时提高数据保真度。
• 构建高效的并行测试设置以提高吞吐量。
• 配置常见半导体验证测试的示例测试设置。